品 质 赢 得 信 赖 科 技 创 造 未 来
芯片制造
-
EPROFILE 300FD
高性能膜厚及OCD测量机
EPROFILE 300FD是自主创新开发,具有自主知识产权的集成电路生产线200/300mm硅片全自动光学薄膜测量及光学关键尺寸(OCD)测量系统。넶6240 ¥ 0.00 -
-
EFILM 300SS/DS
半导体单/双模块膜厚测量机
EFILM 300SS/DS 是公司自主研发和生产的具有完全自主知识产权的集成电路生产线工艺膜厚检测设备。支持300mm/200mm 硅片넶3260 ¥ 0.00 -
EFILM 200FU
国内领先 Micro OLED 全 N2 环境使用倒置型膜厚测量机
EFILM 200FU是公司自主创新开发,具有自主知识产权的硅基显示 Micro OLED 蒸镀生产线 In-Line 设备넶2566 ¥ 0.00 -
-
TG 300IF
干涉式硅片形貌及应力测试
Interferometric measurement of silicon wafer topography and stress
TG 300IF넶0 ¥ 0.00 -
-
J-Profiler
OCD核心算法软件
OCD Modeling & Analysis Software with Powerful RCWA Engine
J-Profiler TM넶0 ¥ 0.00 -