• 首页
  • 公司简介
  • 产品方案
  • 新闻中心
  • 人力资源
  • 联系我们
  • 简体中文
  • English
网站首页  ꄲ  产品方案

品 质 赢 得 信 赖      科 技 创 造 未 来

  • ꂇ 量测类集
  • ꂇ 检测类集
  • ꂇ 服务器类集
  • EFILM FD Series

    先进工艺薄膜计量系统

    넶140 ¥ 0.00
  • EFILM SS Series

    成熟工艺薄膜计量系统

    넶82 ¥ 0.00
  • EFILM E Series

    化合物半导体专用计量系统

    넶54 ¥ 0.00
  • EFILM IM Series

    集成式膜厚测量系统

    넶82 ¥ 0.00
  • EPROFILE FD Series

    光学关键尺寸和形貌测量系统

    넶148 ¥ 0.00
  • EPROFILE IM Series

    集成式光学关键尺寸和形貌测量系统

    넶50 ¥ 0.00
  • TG IF Series

    裸晶圆几何形貌测量系统

    넶61 ¥ 0.00
  • TG DP Series

    图形片几何形貌测量系统

    넶43 ¥ 0.00
  • TG LS Series

    线扫式几何形貌测量系统

    넶44 ¥ 0.00
  • TG E Series

    点扫式几何形貌测量系统

    넶33 ¥ 0.00
版权所有: 上海精测半导体技术有限公司
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6
 本网站由阿里云提供云计算及安全服务
本网站支持 IPv6