网站首页  ꄲ  产品方案  ꄲ  检测类集

  • iView Series

    12寸全晶圆在线FIB-SEM分析及TEM样品制备系统

    넶935 ¥ 0.00

  • AeroScan Series

    落地式桌面FIB-SEM分析及TEM样品制备系统

    넶641 ¥ 0.00

  • GAUSS Series

    SIC/GAN晶圆缺陷检测系统

    넶743 ¥ 0.00

  • eVC Series

    电子束缺陷检测系统

    넶724 ¥ 0.00

  • eSpec Series

    电子束缺陷检测系统

    넶838 ¥ 0.00

  • eView Series

    电子束缺陷复查系统

    넶1353 ¥ 0.00

  • VEGA Series

    无图案晶圆缺陷检测系统

    넶1533 ¥ 0.00

  • BFI Series

    宽谱等离子体图案化晶圆缺陷检测系统

    넶1928 ¥ 0.00
版权所有： 上海精测半导体技术有限公司