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  • iView Series

    12寸全晶圆在线FIB-SEM分析及TEM样品制备系统

    넶1536 ¥ 0.00

  • AeroScan Series

    落地式桌面FIB-SEM分析及TEM样品制备系统

    넶1080 ¥ 0.00

  • GAUSS Series

    SIC/GAN晶圆缺陷检测系统

    넶1315 ¥ 0.00

  • eVC Series

    电子束缺陷检测系统

    넶1354 ¥ 0.00

  • eSpec Series

    电子束缺陷检测系统

    넶1918 ¥ 0.00

  • eView Series

    电子束缺陷复查系统

    넶2231 ¥ 0.00

  • VEGA Series

    无图案晶圆缺陷检测系统

    넶2706 ¥ 0.00

  • BFI Series

    宽谱等离子体图案化晶圆缺陷检测系统

    넶3167 ¥ 0.00
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